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Renishaw将在CIMES 2010展出众多优势产品
来源:网络。 作者:Daisy。 浏览次数:0
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第十届中国国际机床工具展览会(CIMES 2010)将于6月12日至16日在北京新中国国际展览中心举行。全球量测和光学尺技术领域著名企业Renishaw将携其系列优势产品亮相。

Renishaw的展品包括位置编码器、 机床量测系统、测头用探针,以及三次元量床测头、软体和改装件。

Renishaw 提供用于各种线性和旋转运动应用的各种精密位置反馈系统。从各种针对增量性和绝对性要求的坚固耐用的磁性编码器,到高速线性光学尺和精确精密角度光学尺,Renishaw 可以满足各种运动系统要求,包括超高真空 (UHV) 应用要求。 Renishaw 还推出的RESOLUTE是一种真正的精细螺距光学尺系统,具有出色的污垢抵抗力和出众的规格,开创了位置反馈新领地。所有系统以易于设定和安装及最低拥有成本而著称。

Renishaw CIMES RESOLUTE 精细螺距光学尺系统

 刀具设定、破损刀具检测、工件设定、加工循环程式内进行量测及首次检查并自动进行刀具补正更新。

Renishaw的测头用探针采用精密设计,实现最高量测精度。测头探针和探针附件可用于Renishaw的三次元量床, 机床和扫描测头以及
其它制造商的感测器。

在机床测量方面,Renishaw提供

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